Лазерный анализатор элементного состава LEA-S500®

Свернуть меню
 


Преимущества

  • Измерение массовой доли (концентрации) химических элементов или их соединений (оксидов) в анализируемой пробе с минимальной пробоподготовкой
  • Экспрессный многоэлементный анализ
  • Полный анализ химического состава за одно измерение
  • Высокая чувствительность и прецизионность измерений в широком диапазоне концентраций
  • Не требуется изменение агрегатного состояния проб
  • Анализ проб в заданных точках (областях) поверхности с помощью систем позиционирования и видеонаблюдения
  • Послойный анализ покрытий, пленок, налетов, коррозий
  • Анализ состава включений, пороков, дефектов
  • Анализ распределения элементов в пробе с шагом от 30 мкм. Построение карт распределения элементов по поверхности и глубине
  • Не требуются особо чистые реактивы для пробоподготовки
  • Не требуются дорогостоящие расходные материалы
  • Не требуется инертный газ для решения большинства задач
  • Осуществляется очистка загрязненных поверхностей проб предварительными импульсами лазера
  • Универсальность: прибор не требует переналадки или модернизации для решения всех перечисленных задач
  • Анализ токопроводящих и токонепроводящих материалов
  • Анализ проволоки любого диаметра, шариков, цилиндрических деталей без дополнительной обработки с помощью адаптеров (включены в комплект поставки)
  • Удобство и абсолютная безопасность работы и технического обслуживания
  • Полная защита персонала от воздействия вредных факторов