Лазерный анализатор элементного состава LEA-S500®

Свернуть меню
 


Другие возможности

 

В данном разделе рассматриваются виды анализа, требующие существенных материальных и временных затрат при использовании других методов анализа.

 

SOL instruments: спектрометр, рамановский микроскоп, эмиссионный спектрометр. fig1 trubka 320x250

Включение в трубке медицинского стекла (фото)

SOL instruments: спектрометр, рамановский микроскоп, эмиссионный спектрометр. fig2 trubka-monitor 320x250

Включение в трубке медицинского стекла
(вид с экрана монитора) LEA-S500, х100

Дефектоскопия. Анализ состава включений и структурных составляющих.
 
Дефект материала – это локальное изменение химического состава материала, влияющее на его свойства.
Дефектоскопия проводится сличением спектров чистого стекла и дефекта. Система позиционирования Анализатора LEA-S500 обеспечивает точность наведения на дефект 1 мкм. Размеры дефекта должны быть не менее 5 мкм для качественного анализа, 150 мкм для количественного анализа. В иллюстрируемом примере, включение циркония свидетельствует о разрушении огнеупорной кладки стекловаренной печи. Раннее диагностирование процессов разрушения позволяет принять своевременные профилактические меры и избежать дорогостоящих восстановительных работ. Время анализа не более 2 минут.

 
SOL instruments: спектрометр, рамановский микроскоп, эмиссионный спектрометр. fig3 spektr def LEA ru
 
Спектр дефекта и чистого стекла
 

Распределение элементов по поверхности, однородности (гомогенности)

Контроль распределения элементов по поверхности материалов позволяет получить новые сведения об исследуемых пробах. Анализатор LEA-S500 обеспечивает высокую точность, скорость и малую стоимость такого анализа. Позволяет проводить исследования материалов с шагом от 100 мкм.
Данный вид анализа рекомендуется для спецификации однородности при сертификации стандартных образцов состава и свойств материала.
 
SOL instruments: спектрометр, рамановский микроскоп, эмиссионный спектрометр. fig4 map koncentr LEA 320x250
Карта концентрации элемента на поверхности образца
 
 

Послойный анализ

Последовательное испарение материала пробы сфокусированными лазерными импульсами обеспечивает возможность выполнения элементного анализа состава и толщины многослойных покрытий и тонких пленок.
Исследованию могут быть подвергнуты налеты, коррозионные области, участки с нарушенной структурой, композиционные материалы и т.д.
 
 
 
SOL instruments: спектрометр, рамановский микроскоп, эмиссионный спектрометр. fig5 zerk poverh LEA 320x250

Анализ зеркальной поверхности, площадь 2х2 мм
с шагом 100 мкм, 400 точек