LEA-S500
Описание
Метод LIBS
Возможности
Применение
Методики измерений
Публикации

Анализатор элементного состава LEA-S500 – это современный мощный атомно-эмиссионный спектральный прибор с многоканальной регистрацией спектра, который позволяет определить элементный (оксидный) состав пробы за считанные минуты. Определяемые элементы от H до U, диапазон измерения от 0.01 ррм до 100%.

Масса вещества необходимого для анализа — от 50 нанограмм. Время выполнения многоэлементного анализа с учетом времени пробоподготовки 1-15 минут. Время выполнения 400 анализов по определению однородности материала — около 7 минут. Интуитивно понятное программное обеспечение ATILLA 2 гарантирует полноценное использование прибора с первого дня эксплуатации. Для освоения базовых функций требуется несколько часов и минимум специальных знаний.

Двухимпульсный наносекундный лазерный источник возбуждения спектров, благодаря высокой энергетической, пространственной и временной стабильности, обеспечивает максимальную воспроизводимость результатов анализа и низкие пределы обнаружения химических элементов и соединений. Реализуются как дуговой, так и искровой режимы возбуждения спектров. Оригинальный светосильный безабберационный спектрограф с высоким спектральным разрешением обеспечивает получение высококачественных линейчатых спектров излучения. Уникальная система регистрации кратковременных импульсных световых сигналов позволяет достичь рекордно низких пределов обнаружения элементов и линейности концентрационных зависимостей в широком диапазоне, гарантирует точные и достоверные измерения.

Лазерный источник возбуждения спeктров и система регистрации анализатора LEA-S500

Источник возбуждения спeктров — специальный двухимпульсный Nd:YAG лазер с модулированной добротностью

В анализаторе элементного состава LEA-S500 источником света для получения атомно-эмиссионного спектра служит плазма вещества анализируемой пробы, образующаяся в результате воздействия на вещество мощных световых импульсов.

Установлено, что воздействие на пробу двух последовательных лазерных импульсов (с задержкой по времени, не превышающей время жизни плазмы) обеспечивает существенный рост интенсивности и стабильности интенсивности спектральных линий по сравнению с одноимпульсным режимом возбуждения. Получаемый эффект снижает предел обнаружения элементов, повышает точность измерений и расширяет аналитические возможности прибора за счет появления дополнительных линий с высокой энергией возбуждения.

Оригинальный спектрограф с фокусным расстоянием 520 мм с вертикальной симметричной светосильной безабберационной схемой обеспечивает получение высококачественных линейчатых спектров излучения для последующей их аналитической обработки.

Уникальная система регистрации кратковременных импульсных световых сигналов

Использование в спектральных приборах в качестве системы регистрации цифровых камер с многоэлементными приемниками излучения обусловлено целым рядом преимуществ перед традиционными системами регистрации.

Главные из них: возможность одновременной регистрации широкой области спектра; высокое быстродействие, обеспечивающее регистрацию спектров, возбужденных частотными импульсными источниками, что позволяет осуществлять большое количество измерений за единицу времени (в нашем случае 20 раз в секунду); широкая область спектральной чувствительности; низкие собственные темновые сигналы (шумы); широкий динамический диапазон.

В качестве приемника излучения в анализаторе элементного состава LEA-S500 применяется многоэлементная система регистрации спектра (цифровая камера 16 бит, c 2048 светочувствительными элементами) с высокой квантовой эффективностью в интервале волн 170-800 нм, высокой чувствительностью (до 1 ppb) и большим динамическим диапазоном — около 12000.

Одноимпульсный режим
Одноимпульсный режим возбуждения спектров
Двухимпульсный режим
Двухимпульсный режим возбуждения спектров

Наши технические решения гарантируют:

  • Правильность и высокую прецизионность определения элементов и их соединений (оксидов) в пробах.
  • Низкий предел обнаружения элементов (от 0.01 ppm до 1 ppb).
  • Анализ состава любых как токопроводящих, так и нетокопроводящих твердых (монолитных и порошковых) проб.
  • Применение в методических разработках аналитических линий с наилучшей концентрационной чувствительностью, свободных от взаимных спектральных наложений.
  • Максимальную эффективность использования аналитического светового сигнала.
  • Удобство и полную безопасность при работе и обслуживании прибора.
  • Защиту персонала от воздействия вредных факторов.

Условия эксплуатации анализатора элементного состава LEA-S500

Условия эксплуатации LEA-S500:

Конструкция анализатора элементного состава LEA-S500 обеспечивает полную и надежную защиту обслуживающего персонала от воздействия вредных производственных и физически опасных факторов во время проведения работ.

Анализатор предназначен для эксплуатации в помещениях при температуре воздуха от +15 до +27 ˚С и относительной влажности воздуха не более 80 % при 25 °С, конденсация влаги не допускается. Суточный перепад температур в помещении — не более 3 °С; предельные допустимые колебания температуры в течение 2 часов — не более 2°С.

Не допускается наличие в воздухе рабочей зоны агрессивных сред и токопроводящей и мелкодисперсной пыли.

Питание — от сети переменного тока напряжением (220±22) В, частотой (50±1) или (60±1) Гц.

Площадь производственного помещения, в котором эксплуатируется анализатор, должна быть не менее 15 м².

При эксплуатации анализатора должны быть соблюдены следующие нормативы свободного пространства:

  • с задней и боковой сторон — не менее 1 метра;
  • с лицевой стороны — не менее 2 метров.

Защитное заземление прибора должно быть выполнено в соответствии с ГОСТ 12.1.030-81, ГОСТ Р 50571.10-96.

Сертификация анализатора элементного состава LEA‑S500®

LEA-S500 внесен в реестр средств измерения РФ.

При поставке в Республику Беларусь анализатор элементного состава LEA-S500 проходит метрологические испытания в соответствии с ПРОГРАММОЙ И МЕТОДИКОЙ МЕТРОЛОГИЧЕСКОЙ АТТЕСТАЦИИ ПМА. МН 1364 – 2007.

Свидетельство LEA-S500
Свидетельство об утверждении анализатора LEA‑S500 в качестве типа средств измерений
Метрологическая аттестация
Программа и методика метрологической аттестации анализатора элементного состава LEA‑S500